量子传感器专利授权，纳米级共聚焦显微镜突破精度瓶颈

近日，北京量子信息科学研究院（简称“量子院”）获得美国专利商标局颁发的发明专利授权证书，专利名称：SPIN STATE READOUT DEVICE OF QUANTUM SENSOR AND SPIN STATE READOUT METHOD（量子传感器的自旋态读取装置与读取自旋态的方法），专利号：US 12259448 B2。

专利发明人为量子精密测量团队的助理研究员刘岩、研究员杨仁福。

该发明公开了一种量子传感器的自旋态读取装置，该装置相比于普通的以荧光产率进行自旋态读取的方式，能够降低激光器功率漂移、系统信号收集效率漂移等因素造成的自旋态读取误差，具有较高的产业应用价值。

基于该项专利技术，团队成功研制高精度“共聚焦量子扫描显微镜”，相关参数指标达到业内领先水平，扫描精度<0.5 nm，扫描范围达(μm)：200×200×200，时间分辨：80 ps，横向光学成像分辨率<300 nm，纵向光学分辨率<800 nm，产品入选2024年中关村论坛/国际技术交易大会《百项新技术新产品榜单》。