2025年3月7日，国际电工委员会（IEC）正式发布了IEC 62276:2025 《声表面波器件用单晶晶片 规范与测量方法》（Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device applications-Specifications and measuring methods）。
中国电子元件行业协会作为IEC/TC49（频率控制、选择与探测用压电、介电和静电器件及相关材料技术委员会）的国内技术对口单位，充分发挥桥梁纽带作用，积极与IEC/TC49秘书处保持密切沟通，并高效组织国内企业参与标准修订工作。
此次修订项目由天通控股股份有限公司牵头，国内项目团队由中国电子科技集团公司第二十六研究所、福建晶安光电有限公司、中国电子元件行业协会、中电科技德清华莹电子有限公司、北京石晶光电科技股份有限公司、成都泰美克晶体技术有限公司等行业内优秀企业、组织及科研院所组成。
在修订过程中，项目团队对声表面波（SAW）器件用单晶晶片及透过率（晶片黑化程度）的技术要求和相应测量方法进行讨论及验证试验，提出了多项技术性修改内容，以适应当前智能终端时代对声表面波器件用单晶晶片的需求，得到了国际同行的高度认可。
该标准是中国主导修订的首个压电频率元器件国际标准，也是我国声表面波（SAW）器件行业以企业为主体、市场为导向、产学研结合的技术创新体系建设的重要尝试，实现了中国主导承担本领域国际标准项目“零”的突破，对建立我国在该领域的标准话语权及提升产业国际竞争力具有重要意义。
